Freeman, E.; Woodruff, S. D.; Worley, S. J.; Lubker, S. J.; Kent, E. C.; Angel, W. E.; Berry, D. I.; Brohan, P.; Eastman, R.; Gates, L.; Gloeden, W.; Ji, Z.; Lawrimore, J.; Rayner, N. A.; Rosenhagen, G.; Smith, S. R.;

Williamson, F.; Allan, R.; Ren, G. Y.; Lee, T. C.; Lui, W. H.; Kubota, H.; Matsumoto, J.; Luterbacher, J.; Wilkinson, C.; Wood, K.;

Smith, S. R.; Alory, G.; Andersson, A.; Asher, W.; Baker, A.; Berry, D. I.; Drushka, K.; Figurskey, D.; Freeman, E.; Holthus, P.; Jickells, T.; Kleta, H.; Kent, E. C.; Kolodziejczyk, N.; Kramp, M.; Loh, Z.; Poli, P.; Schuster, U.; Steventon, E.; Swart, S.; Tarasova, O.; de la Villéon, L. P.; Vinogradova-Shiffer, N.;

Centurioni, L. R.; Turton, J.; Lumpkin, R.; Braasch, L.; Brassington, G.; Chao, Y.; Charpentier, E.; Chen, Z.; Corlett, G.; Dohan, K.; Donlon, C.; Gallage, C.; Hormann, V.; Ignatov, A.; Ingleby, B.; Jensen, R.; Kelly-Gerreyn, B. A.; Koszalka, I. M.; Lin, X.; Lindstrom, E.; Maximenko, N.; Merchant, C. J.; Minnett, P.; O’Carroll, A.; Paluszkiewicz, T.; Poli, P.; Poulain, P.-M.; Reverdin, G.; Sun, X.; Swail, V.; Thurston, S.; Wu, L.; Yu, L.; Wang, B.; Zhang, D.;

Tan, W.; Wang, X.; Wang, W. Q.; Wang, C. Z.; Zuo, J. C.;